出版AOI

設備特點

· 精準數控式組合光源,千萬像素級工業CCD及鏡頭

· 設備小巧、系統穩定、操作簡單,具有和邁爲、科隆威、捷佳創等印刷廠商配套經驗

· 在線(xiàn)式檢測,可與産線(xiàn)MES無縫連接

· 非接觸式光學AOI檢測,可以快速且可靠地檢測出更類印刷異常,第一時間發現(xiàn)網闆或者漿料等設備定位的問題,避免出現(xiàn)批量電池片印刷降級

· 采用多等級檢測結果處理條件,可針對不同的檢測項目設置不同的處理,報警提示或停機處理


項目規格

适用Wafer尺寸

156*156mm- 170*170mm
适用Wafer類型單晶、多晶,金剛線(xiàn)單晶、多晶,PERC電池片
最高産能

3800PCS/小時

像素精度<0.047mm

檢測缺陷精

<0.09mm
UPTime

>98%

誤判率<1%

漏報率

<0.1%


設備外觀&安裝圖

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成像效果

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