成品AOI

設備特點

· 精準數控式積分曲面RGB無影光源

· 全進口千萬像素級工業相(xiàng)機及鏡頭

· 設備結構高度集成,安裝維護方便,界面易操作

· 在線(xiàn)式檢測,可與産線(xiàn)MES無縫連接

· 三色算法真實還原電池片顔色,實現(xiàn)電池片高精度顔色分選;

· 人工智能技術實現(xiàn)電池片缺陷分類;

· 大數據分析缺陷分布和缺陷電池片分布規律


彩色成像方案:使用黑白CCD芯片+RGB光源(同GP)

· 紅、綠、藍感光像素數均爲2千5百萬

· 真色彩還原,感光度高,對比度好

· 天然黑白模式,顔色檢驗更準确、缺陷檢測更具優勢

· 成像不受光源(或環境光)色溫影響

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其他競品成像方案:使用彩色CCD芯片+白色光源

· 色彩是(shì)通過插補形成的,而非真彩色 

· 紅、藍感光像素數占25%,相(xiàng)當于6百萬

· 綠感光像素數占50%,相(xiàng)當于1千2百萬

· 色彩不夠瑞麗,色域範圍有限

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成像效果&優劣勢對比


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方案

三色光+黑白相(xiàng)機單色光+彩色相(xiàng)機
拍照數量3張照片1張照片
CT(拍照+處理)850ms

600ms

處理方式(顔色、外形、圖形、缺陷)

同步處理,CT不随檢測項目增加

串行處理,種類增加CT增加

算法顔色瑞麗,分選準确:紅光下(xià)表面沾污易檢測(例如水紋印)

顔色呈現(xiàn)不夠瑞麗,輕微表面沾污無法識

工藝便捷性産品切換無需更改底層算法産品切換需更改底層算法


設備參數


項目規格

設備尺

長430mm寬390mm高780mm
适用Wafer尺寸156*156mm- 170*170mm
适用Wafer類型

單晶、多晶,金剛線(xiàn)單晶、多晶,PERC電池片

産能高達3800PCS/小時
正面相(xiàng)機像素/解析度2500萬,34um
背面相(xiàng)機像素/解析度

2000萬,48um(方便産品升級可選2500萬配置)

UPTime>99%
誤判率低至<1%

漏報率

低至<0.1

碎片率

0%


檢測項目缺陷類型
尺寸測量

邊長、彎曲、對角線(xiàn)等

破損檢測破損、崩邊、缺角、栅線(xiàn)破損、裂紋等
印刷偏移含整體偏移、栅線(xiàn)偏移、主栅偏移等
栅線(xiàn)檢測

含斷栅、變細、變粗、扭曲、虛印等

髒污檢測含指紋、水印、絲網髒污等
色斑檢測亮藍色斑、小斑點、白斑、暗紅色斑、漏漿、指印、滴油、未鍍膜、擴散舟印、刻蝕色斑等
線(xiàn)痕檢測栅線(xiàn)上類似劃痕的缺陷出現(xiàn)位置栅線(xiàn)變粗
過刻檢測産品表面刻蝕過度造成暗黃或暗紅色差
色差檢測單片色差、黑絲片、花片、明暗片、片内色差


檢測項目

缺陷類型

尺寸測量邊長、彎曲、對角線(xiàn)等
電極偏移

含上下(xià)偏移、左右偏移等

電極檢測含電極缺失、破損、翹起等
髒污檢測含污點、指紋、油污等
色斑檢測黃斑、斑塊等
色差檢測片内色差、發黃等